Bibliograph. Daten | Pan, Yali: Simulationsgestützte Fehleranalyse bildbasierter Messverfahren zur Bestimmung von Partikeleigenschaften. Universität Stuttgart, Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik, Diplomarbeit Nr. 21 (2012). 77 Seiten, englisch.
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