Moderne Mikrochips enthalten zahlreiche Instrumente, die zur Auswertung der Betriebsparameter, zum Test oder zur Validierung der Funktionalität genutzt werden. Rekonfigurierbare Scan-Netzwerke (RSN) bieten die Möglichkeit eines effizienteren, flexibleren und skalierbareren Zugriffs auf eingebettete Instrumente gegenüber üblichen statischen Scan- Ketten. Durch den Einsatz von Rekonfigurierbaren Scan-Netzwerken nimmt jedoch die Komplexität der Zugriffsinfrastruktur zu. Während Scan-Ketten im Wesentlichen aus Schieberegistern bestehen, wodurch ein Defekt im Scan-Pfad relativ einfach festgestellt werden kann, finden sich in Rekonfigurierbaren Scan-Netzwerken, neben einfachen Logikelementen, auch Multiplexer und möglicherweise komplexere Schaltungen. Somit können unterschiedliche Scan-Pfade und -Hierarchien gebildet werden. Allerdings können bestehende Tests für Scan-Ketten die komplexere Steuerlogik bei Rekonfigurierbaren Scan-Netzwerken nicht ausreichend testen. Deshalb ist es notwendig, neuartige Teststrategien zu entwickeln, welche speziell an die Merkmale von Rekonfigurierbaren Scan-Netzwerken angepasst sind. In dieser Arbeit werden Strategien für den Test Rekonfigurierbarer Scan-Netzwerke analysiert und ausgewertet. Es werden mehrere neue Verfahren zur Erzeugung von Testmustern vorgestellt, welche effizient bezüglich Laufzeit als auch des Speicherplatzbedarfs arbeiten.