Das Testen von Schaltnetzen war schon immer eine große Herausforderung um die korrekte Funktionsweise digitaler Schaltnetze nach der Produktion sowie im Betrieb der Schaltung sicher zu stellen. Hieraus resultieren diverse Ansätze, Schaltnetze effizient und wirtschaftlich testen zu können. Ein Ansatz stellt der Built-in self-test (BIST) dar. Aufgrund der Integration der Testschaltung in die zu testende Schaltung ergeben sich unter anderem enorme Einsparungen an umfangreichen und teuren externen Testgeräten. Auch erschließt sich hieraus die Möglichkeit, sicherheitsrelevante Schaltnetze dem Tester nicht offen legen zu müssen. Ein solcher Ansatz zum Test sicherheitsrelevanter Schaltnetze stellt der während der Studienarbeit zu implementierende Built-in self-test dar. Diese Built-in self-test Architektur zeichnet sich durch eine hohe Einsparung an zusätzlich benötigter Hardware aus und kann somit platzsparend in zukünftigen Schaltungen integriert werden.