Student Thesis STUD-2269

BibliographyBayha, Stefan: Hardware Entwurf eines eingebauten Selbsttests für digitale Schaltnetze.
University of Stuttgart, Faculty of Computer Science, Electrical Engineering, and Information Technology, Student Thesis No. 2269 (2010).
58 pages, german.
CR-SchemaB.5.1 (Register-Transfer-Level Implementation, Design)
B.5.3 (Reliability and Testing)
Abstract

Das Testen von Schaltnetzen war schon immer eine große Herausforderung um die korrekte Funktionsweise digitaler Schaltnetze nach der Produktion sowie im Betrieb der Schaltung sicher zu stellen. Hieraus resultieren diverse Ansätze, Schaltnetze effizient und wirtschaftlich testen zu können. Ein Ansatz stellt der Built-in self-test (BIST) dar. Aufgrund der Integration der Testschaltung in die zu testende Schaltung ergeben sich unter anderem enorme Einsparungen an umfangreichen und teuren externen Testgeräten. Auch erschließt sich hieraus die Möglichkeit, sicherheitsrelevante Schaltnetze dem Tester nicht offen legen zu müssen. Ein solcher Ansatz zum Test sicherheitsrelevanter Schaltnetze stellt der während der Studienarbeit zu implementierende Built-in self-test dar. Diese Built-in self-test Architektur zeichnet sich durch eine hohe Einsparung an zusätzlich benötigter Hardware aus und kann somit platzsparend in zukünftigen Schaltungen integriert werden.

Full text and
other links
PDF (719873 Bytes)
Access to students' publications restricted to the faculty due to current privacy regulations
Department(s)University of Stuttgart, Institute of Technical Computer Science, Computer Architecture
Superviser(s)Holst, Stefan
Entry dateFebruary 7, 2011
   Publ. Computer Science